[15p-318-1~11] CS.4 7. Code-sharing Session: Beam Technology and Nanofabrication

△ [15p-318-3] X-ray Phase Contrast Imaging using Micro-focus X-ray Source and Amplitude Grating -Utilization of Short-Period Projection Image of Amplitude Grating-

〇(M1)Ryo Hosono¹, Issei Sano¹, Tomoki Kawabata², Kiyoshi Hayashida², Togo Kudo^3,4, Kyosuke Ozaki³, Takaki Hatsui³, Takuji Hosoi¹, Heiji Watanabe¹, Takayoshi Shimura¹ (1.Osaka Univ. Eng., 2.Osaka Univ. Sci., 3.RIKEN, 4.JASRI)

Keywords:x-ray phase contrast imaging, amplitude grating, pixel detector

我々はこれまで実験室系のX線位相イメージング法として、位相格子の干渉像（自己像）ではなく振幅格子の投影像（影絵）を用いる手法を提案してきた。本手法ではX線エネルギーに依存せず光学系を設計でき、２次元ピクセル検出器を用いることで多波長同時撮影も可能となる。今回はピクセル検出器の低ノイズ性を利用し、短周期化した振幅格子の投影像から位相微分像や小角散乱像を抽出する手法を検討したので報告する。