The 64th JSAP Spring Meeting, 2017

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.9 Optical properties and light-emitting devices

[15p-411-1~16] 13.9 Optical properties and light-emitting devices

Wed. Mar 15, 2017 1:15 PM - 5:30 PM 411 (411)

Kazushige Ueda(Kyutech), Kenji Shinozaki(AIST)

3:00 PM - 3:15 PM

[15p-411-8] Thickness dependence on Photo Luminescence properties of Sn doped SiON films

〇(M1)Shota Furusawa1, Shunsuke Nakamura1, Yan Wu1, Yoshihiro Takahashi1 (1.Nihon Univ.)

Keywords:photo luminescence, Photo-assisted CVD, SiON film

これまでにDry酸化膜を始めとするSiO2膜にSnを拡散し,可視領域でのPL発光を確認している.本報告では,光CVD法により製膜したSiON膜にSnを拡散し,PL特性のSiON膜厚依存性について検討を行った.結果より,強いPL発光強度を得るためには,より厚いSiON膜厚が必要であることが分かった.この原因はSiON膜の深さ方向にSnの拡散係数が異なっていることにあると予想している.