[15p-F202-1~11] 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

[15p-F202-2] Tip-enhanced Raman scattering microscope using quartz-tuning-fork AFM probe

〇(P)Kohta Saitoh¹, Atsushi Taguchi¹, Satoshi Kawata¹ (1.Osaka Univ.)

Keywords:Enhanced Raman, Scanning Probe Microscopy, Nanophotonics

先端増強ラマン散乱(TERS)顕微鏡は、金属探針先端に誘起された近接場光を用いることで回折限界を超えたラマン分光イメージングを可能にする顕微鏡である。従来、探針の走査制御にはコンタクトモードAFMが用いられてきたが、無固定の試料に対して測定が難しく、また分光測定と光てこ系との干渉が生じる等、実用化の上で課題が残されている。今回我々は圧電性の音叉形水晶振動子AFMプローブを用いることで、無固定の試料に対しても測定可能で、かつ干渉の心配がないTERS顕微鏡を開発したので報告する。