[15p-P15-1~17] 13.5 デバイス／集積化技術

[15p-P15-13] カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリにおける書き換え電圧を変化させたときの耐久性評価

〇猪瀬 貴史¹、Iwasaki Ogura Tomoko¹、Sheyang Ning²、Darlene Viviani²、Monte Manning²、X. M. Henry Huang²、Thomas Rueckes²、竹内 健¹ (1.中大理工、2.Nantero.Inc)

キーワード：カーボンナノチューブ、書き換え耐久性