2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.5 IV族結晶,IV-IV族混晶

[15p-P7-1~5] 15.5 IV族結晶,IV-IV族混晶

2017年3月15日(水) 13:30 〜 15:30 P7 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[15p-P7-3] 真空蒸着と低温アニールによるBi媒介Geナノドット形成-1

〇(M1)滝田 健介1、対馬 和都1、遠田 義晴1、俵 毅彦2、舘野 功太2、章 国強2、後藤 秀樹2、池田 高之3、水野 誠一郎3、岡本 浩1 (1.弘前大理工、2.NTT物性基礎研、3.NTTアドバンステクノロジ)

キーワード:ゲルマニウム、ナノドット、ビスマス

熱酸化膜付きSi基板上に、真空蒸着と低温アニールにより、Biを媒介した結晶Geナノドットの形成を試みた。その結果、STEM観察により、Biをほとんど含まない結晶Geナノドットが形成されたことが確認された。AES分析からも400℃のアニールによりBiの信号がほぼ消滅していることが確認された。BiとGeが混合したアモルファスの初期ドットからアニールによってBiが排出され昇華する過程においてGeの結晶ナノドットが形成されたと考えられる。