[16a-213-1~7] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[16a-213-5] 放射光を用いたアモルファスGe-S系のX線回折測定ーGe組成変化による局所構造の変化

〇坂口 佳史¹、花島 隆泰¹、尾原 幸治²、Mitkova Maria³ (1.CROSS、2.JASRI、3.ボイジー州立大学)

キーワード：アモルファスGe-S、局所構造、X線回折

アモルファスGe-S系はGe組成の変化によりネットワークを構成する分子様クラスターが変化していく興味深い系である。本講演では、Ge組成変化により局所構造がどのように変化していくのかを実験的に明らかにするため、放射光を用いたX線回折測定を行ったので、その結果について報告する。