[16a-301-1~8] CS.3 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

[16a-301-6] 導電性探針AFMを用いたRu二核錯体単分子膜の電気物性

〇高木 大敬¹、大塚 洋一¹、小澤 寛晃²、芳賀 正明²、松本 卓也¹ (1.阪大院理、2.中央大理工)

キーワード：電気測定、導電性探針AFM