[16a-422-1~10] 3.13 半導体光デバイス

[16a-422-8] C-V測定によるAl₂O₃/p-InP基板界面の電気特性の評価

〇漆原 義文¹、新田 毅¹、清水 大雅¹ (1.農工大工)

キーワード：半導体レーザー