2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[16a-423-1~12] 1.5 計測技術・計測標準

2017年3月16日(木) 09:00 〜 12:15 423 (423)

野中 秀彦(産総研)、菊永 和也 (産総研)

11:00 〜 11:15

[16a-423-9] 大面積の磁場分布を測定するためのバックライト一体型MOイメージングプレートの開発

長久保 洋介1、佐々木 教真2、目黒 栄3、石橋 隆幸1 (1.長岡技科大、2.株式会社オフダイアゴナル、3.ネオアーク株式会社)

キーワード:磁気光学イメージング、磁気光学効果、Bi置換Nd鉄ガーネット