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[16a-P6-20] KFMを用いたフェルミエネルギーの温度依存性測定
キーワード:KFM、Si、温度測定
ナノ構造熱電材料に対する非接触・非破壊のゼーベック係数測定のために,Kelvin-probe force microscopy (KFM)によるフェルミエネルギーの温度依存性測定を行った.測定したフェルミエネルギーはn型Siとp型Siで反対の符号を示し,高濃度の試料において絶対値で低い値を示した.これらの傾向は一般的な半導体の傾向と一致しており,KFMによる温度算出法の有効性を示唆している.