[16p-211-1~18] 16.3 シリコン系太陽電池

[16p-211-16] PIDが結晶Si太陽電池の高温高湿劣化に及ぼす影響

〇橘 泰至¹、豊田 丈紫¹、南川 俊治¹、原 由希子²、増田 淳² (1.石川県工業試験場、2.産業技術総合研究所)

キーワード：電圧誘起劣化、DH試験

DH試験を1000時間実施した後にPID試験を20時間実施した結晶シリコン太陽電池モジュールに対して、再度DH試験を1000時間実施した。その結果、熱によるPIDの回復を示すI-V特性と、DH試験のみを4000時間実施した場合と似たEL画像が得られた。これらの結果は、熱によるPIDの回復と、DHによる劣化の進行が同時に発生する可能性を示す。また、PIDの発生によりその後のDH劣化が加速される可能性を示唆する。