2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » GFIS(電界電離ガスイオン源)ガスイオン顕微鏡技術とその材料・デバイス研究開発への応用:現状と今後の展望

[16p-315-1~11] GFIS(電界電離ガスイオン源)ガスイオン顕微鏡技術とその材料・デバイス研究開発への応用:現状と今後の展望

2017年3月16日(木) 13:15 〜 18:00 315 (315)

水田 博(北陸先端大)、小川 真一(産総研)

14:45 〜 15:00

[16p-315-5] Development of nanofiber Bragg cavities using helium ion microscope

高島 秀聡1、福田 純1、丸谷 浩永1、岩端 祐介1、Schell Andreas1、竹内 繁樹1 (1.京大院工)

キーワード:optical nanofiber, Focused ion beam