2:00 PM - 2:15 PM
[16p-316-2] Fast Stabilization of Swept Light Source with Irradiated KTN Crystal
Keywords:KTN, optical scanner, swept light source
KTN光偏向器を用いた波長掃引光源において、微弱光をKTN結晶に照射しながら光源を動作させることにより、本光源を用いたシリコン基板厚の計測精度が、立ち上がり時間2分以下で標準偏差が厚みの0.01%以内に収まり、かつそれが230時間以上維持することを確認した。