[16p-411-1~10] 6.1 Ferroelectric thin films

[16p-411-1] [JSAP Young Scientist Award Speech] Quantitative Analysis of Direct Piezoresponse for BiFeO₃ Films by Scanning Probe Microscopy

〇Kento Kariya¹, Takeshi Yoshimura¹, Norifumi Fujimura¹ (1.Osaka Pref. Univ.)

Keywords:piezoelectric, BiFeO3, probe microscopy

本研究では新規に開発した走査型プローブ顕微鏡を基盤とした微視的領域における正圧電応答の観察手法を用いてBiFeO₃薄膜のドメイン壁が正圧電応答に及ぼす寄与を定量的に解析した。エンジニアードドメイン構造を有する(100)膜において、109ºドメイン壁のみに囲まれたドメインと比較して、71ºドメイン壁を有しているドメインでは平均して30 %程大きな圧電応答が観察され、71ºドメイン壁が正圧電応答に大きく寄与することが示唆された。