2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[16p-P3-1~23] 6.2 カーボン系薄膜

2017年3月16日(木) 13:30 〜 15:30 P3 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[16p-P3-14] ラマン分光法によるダイヤモンドドーピング分布の評価

〇(M1C)土田 有記1、山口 浩司1、亀井 栄一1、福永 大輔1、大谷 昇1、鹿田 真一1 (1.関学大理工)

キーワード:半導体、ダイヤモンド、ラマン分光法

我々は、これまで高濃度ドープによるラマン対称性の崩れに起因するピークを用いてB濃度微細マッピングを行ってきたが、今回p+ HPHT結晶とCVDによるp+エピ薄膜の濃度分布について比較検討を行った。結晶及びp+ CVD薄膜結晶についてラマン測定を行ったところ、ドーピング起因のブロードなピークがそれぞれ確認される。このピークを用いたマッピングよりCVD薄膜結晶は、p+ HPHT結晶と比較して、ドーピング均一性が高いことがわかった。