2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[16p-P5-1~17] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月16日(木) 13:30 〜 15:30 P5 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[16p-P5-11] インピーダンス分光法による有機半導体の局在準位密度分布の高感度測定

福留 淳1、高田 誠1、永瀬 隆1,2、小林 隆史1,2、田中 作白3、宮本 栄一3、内藤 裕義1,2 (1.大阪府大工、2.大阪府大分子エレクトロニックデバイス研、3.京セラドキュメントソリューションズ株式会社)

キーワード:インピーダンス分光、局在準位密度分布