[16p-P5-1~17] 12.2 評価・基礎物性

[16p-P5-11] インピーダンス分光法による有機半導体の局在準位密度分布の高感度測定

〇福留 淳¹、高田 誠¹、永瀬 隆^1,2、小林 隆史^1,2、田中 作白³、宮本 栄一³、内藤 裕義^1,2 (1.大阪府大工、2.大阪府大分子エレクトロニックデバイス研、3.京セラドキュメントソリューションズ株式会社)

キーワード：インピーダンス分光、局在準位密度分布