[16p-P9-1~66] 2 Ionizing Radiation（Poster）

[16p-P9-19] LET dependence of TSL properties in Ce:LiCaAlF₆ crystals

〇(M2)Daisuke Nakauchi¹, Masanori Koshimizu², Go Okada¹, Yusuke Koba³, Kentaro Fukuda⁴, Yutaka Fujimoto², Noriaki Kawaguchi¹, Keisuke Asai², Takayuki Yanagida¹ (1.NAIST, 2.Tohoku Univ., 3.NIRS, 4.Tokuyama Corp.)

Keywords:TSL

He線や炭素線などの重粒子は高い線エネルギー付与 (LET) を示すため、その飛程に沿ってイオン化の偏りが生じる。そのため、X線などの低LETで励起を行った場合と挙動の変化が観測されることがある。今回我々は、中性子計測用に (株)トクヤマと協力して実用化したCe添加LiCaAlF₆単結晶 [3] に対して放医研HIMACにて異なるLETでHe線を照射した後の熱蛍光の測定を行った。