[16p-P9-1~66] 2 放射線（ポスター）

[16p-P9-62] 空乏層変調によるCdTe半導体検出器の特性変化

〇(D)寺尾 剛¹、都木 克之¹、小池 昭史^1,2、青木 徹^1,2 (1.静岡大、2.ANSeeN)

キーワード：CdTe、半導体検出器