2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[17a-418-1~10] 3.8 光計測技術・機器

2017年3月17日(金) 09:00 〜 11:45 418 (418)

森田 隆二(北大)、渡邉 紳一(慶大)

09:00 〜 09:15

[17a-418-1] 可視-真空紫外エリプソメータによるシンクロトロン放射光ビームラインのストークス・パラメータ測定

福井 一俊1、那須 勇樹1、藤居 佑輔1、山本 晃司1、齋藤 輝文2 (1.福井大工、2.東北工大工)

キーワード:ストークス・パラメータ、エリプソメータ、シンクロトロン放射光

シンクロトロン放射光ビームラインのストークス・パラメータをエリプソメータを用いて可視から真空紫外にわたり測定した。