2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[17p-418-1~13] 3.8 光計測技術・機器

2017年3月17日(金) 13:15 〜 16:45 418 (418)

石澤 淳(NTT)、稲場 肇(産総研)

13:30 〜 13:45

[17p-418-2] オールファイバ型デュアルコム分光システムの開発

〇(B)王 月1、浅原 彰文1,2、近藤 健一1,2、美濃島 薫1,2 (1.電気通信大学、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ)

キーワード:光周波数コム、デュアルコム分光

デュアルコム分光法は、広帯域のスペクトル情報を高精度かつ高速に測定できる新しい分光法である。これまでに、我々は本手法をレーザー媒質や固体試料などの複素屈折率測定に応用してきた。本研究では、コンパクトかつアライメント調整が容易なオールファイバ型分光系を開発し、汎用的かつ簡便なデュアルコム分光システムの実現を目指した。