2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.4 III-V族窒化物結晶

[17p-P3-1~22] 15.4 III-V族窒化物結晶

2017年3月17日(金) 13:30 〜 15:30 P3 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[17p-P3-6] 4H-SiC上ポーラスエピタキシャルグラフェン基板を用いたRF-MBE InN初期核形成

石丸 大樹1、寺井 汰至2、橋本 明弘1 (1.福井院工、2.福井工)

キーワード:窒化物半導体、エピタキシャルグラフェン

InNは、様々なデバイスに応用が期待されている。しかしながら、高転位密度などに起因する高い残留キャリア濃度などにより、p型InNの形成は難しい。高品質InN結晶層の成長において、転位密度低減のためには、初期核形成過程のa軸配向性制御が重要な役割を担う。a軸制御のために微細孔を形成した4H-SiC基板上に、Si昇華法を用いて形成したポーラスエピタキシャルグラフェン基板を基板とした際のInN初期核形成について報告する。