15:00 〜 15:15 [19p-231A-7] Ge-(Sb)-Te薄膜におけるガンマ線照射による抵抗変化のリアルタイム測定 〇(M1)朴 孝晟1、依田 功2、川崎 繁男3、中岡 俊裕1 (1.上智理工、2.東工大、3.宇宙研)