■非接触CV測定装置FAaST ■膜厚測定装置分光エリプソメーターSE-2000 ■キャリア移動度測定装置LE-1600シリーズ

■PCベース計測器 ■FPGA搭載データ収集デバイス

■超短パルスレーザー ■CW266レーザー ■LEDコンバイナー ■シングルフォトンカウンティングカメラ

■単結晶、光学窓材、THzディテクター

■完全非接触原子間力顕微鏡

■マニュアル エポキシダイボンダー モデル7200CR ■卓上型マニュアル ディープアクセス ウエッジボンダー モデル7476D ■卓上型マニュアル ボールワイヤー＆バンプボンダー モデル7700D ■HMP-410IS 小型マニュアルプローバー+テスター(B2900A) ■AW610 高速熱処理装置 ■自動真空・ガス置換電気炉 VF-5000 ■卓上型マニュアル劈開装置 LatticeAx...

■原子層堆積装置（ALD装置） ■アニール装置（RTP装置）

■【ファイファーバキューム社製品】・卓上型TMP排気ユニット　Hicube　ECO ・ヘリウムリークディテクタASM310 ・6chゲージコントローラ　TPG366（新製品） ・四重極質量分析計　Prisma Pro（新製品） ・NEGコーティング（新製品）

■MC-LMBEレザーMBE装置 ■薄膜形成装置 ■TOFLAS分析装置 ■真空部品 ■アジレント商品、その他

■光電子増倍管 ■マイクロPMTモジュール ■ミニ分光器 ■MPPC/MPPCモジュール ■ORCA-Lightningデジタルカメラ ■PMA

■走査プローブ顕微鏡 ■白色干渉顕微鏡

■三次元表面形状測定システム ■膜厚測定システム

■分光器 ■LIBS（分光器+ナノ秒レーザ＋ソフト）システム ■CWマイクロレーザ ■ビームプロファイラー ■ラマン分光システム ■オートコリレータ ■高性能球面レンズ、他

■バルブ、継手、MFC

■計算化学シミュレーションソフト「SCIGRESS」

■研究開発用インクジェット装置マテリアルプリンターDMP-2850

■無機材料データベース「AtomWork-Adv」利用サービスの紹介

■NIMS Open Facility（NIMS共用設備）の紹介 ■ユーザースクールの紹介