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[18a-146-5] GaN基板からエピタキシャル膜へ伝播する転位の分類と挙動の解明
キーワード:GaN
GaNパワーデバイスは高周波高耐圧と優れた特性が期待されるが、デバイス中に貫通転位によりリーク電流の発生や移動度低下などの悪影響を及ぼす。本研究ではホモエピタキシャル成長させたGaN基板について、ラマン分光法及びX線トポグラフィにより決定した貫通転位の種類やバーガースベクトルの方向と、2光子励起フォトルミネッセンス法により観察した転位の3次元的な伝播挙動とを比較することで、両者の関係性の評価を試みた。