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[18a-224B-6] 金属原料を用いた二流化ハフニウム薄膜の作製
キーワード:遷移金属ダイカルコゲナイド
二流化ハフニウム(HfS2)は高い電子移動度(1800 cm2 V-1 s-1)とバンドギャップエネルギー(1.2 eV)を持つ層状化合物半導体であり、低消費電力電子素子材料として期待されている。
現在入手可能な金属Hfは最大6N(数100 ppmのZrを除く)の高純度であるため、それを用いた化学気相堆積(CVD)合成が可能となればHfS2の作製手法に新たな指針を示すことができる。本報告では塩化ナトリウムと高純度金属Hfを用いたHfS2薄膜のCVD法に関して、合成条件の最適化を目標に検討した。
現在入手可能な金属Hfは最大6N(数100 ppmのZrを除く)の高純度であるため、それを用いた化学気相堆積(CVD)合成が可能となればHfS2の作製手法に新たな指針を示すことができる。本報告では塩化ナトリウムと高純度金属Hfを用いたHfS2薄膜のCVD法に関して、合成条件の最適化を目標に検討した。