[18p-131-1~6] 10.1 Emerging materials in spintronics and magnetics (including fabrication and charactrization methodologies)

[18p-131-6] Magnetocrytalline anisotropy of epitaxial CoNi multilayered film studied by magnetic field-angle dependent XMCD

〇(DC)Keisuke Ikeda¹, Keita Ito², Takeshi Seiki², Goro Shibata³, Shoya Sakamoto³, Yosuke Nonaka³, Chi Zhendong³, Yuxuan Wan³, Masahiro Suzuki³, Masako Sakamaki⁴, Kenta Amemiya⁴, Koki Takanashi², Hiroki Wadati¹, Atsushi Fujimori³ (1.ISSP, Univ. of Tokyo, 2.IMR, Tohoku Univ., 3.Dep. Phys., Univ. of Tokyo, 4.KEK-PF)

Keywords:CoNi multilayer, Magnetocrystalline anisotropy, XMCD

CoNi 多層膜は、エピタキシャルに成長させることで垂直磁気異方性が増大し、磁気ダンピング係数が抑えられることが報告されている、応用上興味がもたれている物質の一つである。今回、その磁気異方性について調べるため、磁場角度依存XMCD 測定を [Co(1ML)/Ni(1ML)]多層膜について行った。