[18p-211A-1~17] 12.3 機能材料・萌芽的デバイス

△ [18p-211A-16] 繰り返し湾曲過程における高分子フィルムのひずみ解析

〇徳光 香代子¹、田口 諒¹、赤松 範久¹、藤川 茂紀^1,2、宍戸 厚¹ (1.東工大化生研、2.九大WPI-I2CNER)

キーワード：高分子フィルム、湾曲、表面ひずみ

近年，曲がるデバイスを創製する研究が盛んに行われており，柔軟な材料の力学物性が注目されているが，湾曲における測定手法は延伸の測定手法ほど確立していない。そこでわれわれは，湾曲形状を定量的に測定できる装置を製作し，光の回折現象を利用した高分子フィルム表面のひずみを微視的に解析する手法を開発している。本研究では，繰り返し湾曲させる過程においてフィルムの湾曲挙動をひずみと形状の観点から比較検討した。