The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

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Oral presentation

1 Interdisciplinary Physics and Related Areas of Science and Technology » 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

[18p-231A-1~14] 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

Tue. Sep 18, 2018 1:15 PM - 5:30 PM 231A (231-1)

Nao Terasaki(AIST), Hiromasa Tokudome(TOTO)

1:15 PM - 1:30 PM

[18p-231A-1] [Young Scientist Presentation Award Speech] Ultra-low phase noise microwave generation and high-sensitivity phase noise characterization by femtosecond optical sampling

Mamoru Endo1, Shoji D. Tyko1, Thomas R. Schibli1,2,3 (1.Univ. of Colorado, 2.NIST, 3.JILA)

Keywords:microwave, optical sampling, phase noise

計量標準やその他の様々な分野で利用される低雑音マイクロ波は、その発生が困難であるだけでなく、位相雑音の測定も課題である。本発表では、私達の考案した光サンプリング法による超高感度位相雑音測定法を紹介する。この手法の感度は-186 dBc/Hzであり、最先端のマイクロ波の位相雑音よりも10 dB程度低い値を持つ。また本発表では、最先端の低雑音マイクロ波発生・応用について、簡単なレビューも行う。