16:30 〜 17:00
[18p-432-8] 酸化物絶縁膜界面に出現するダイポール層の理解・制御とその応用
キーワード:界面ダイポール層、絶縁膜、MOSデバイス
High-k絶縁膜をSiO2と堆積すると,酸化物界面にダイポール効果が生じ,数百mVのオーダーでMOSFETの閾値電圧がシフトする。この効果は開発当初は想定すらしていなったものだが,今やLSIではその制御が必須である。本講演では静電的に不活性な常誘電体が容易に巨大なダイポール効果を生じる機構の定性的理解と,それに基づくダイポール層の強度の能動的な設計や応用可能性について議論する。