[18p-PA4-1~20] 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

[18p-PA4-20] Wavefront measuring and compensation in temporal focusing microscopy

〇Keisuke Toda¹, Keisuke Isobe¹, Kana Namiki¹, Hiroyuki Kawano¹, Atsushi Miyawaki¹, Katsumi Midorikawa¹ (1.RIKEN)

Keywords:wavefront measuring, wavefront compensation, multi-photon fluorescence microscopy

多光子励起蛍光顕微鏡による生体深部観察が盛んに行われているが，励起光の波面歪みによる空間分解能の低減が問題となってきた．時空間集光顕微鏡においては，瞳面における空間位相が励起光のスペクトル位相と等価となるため，スペクトル位相変調による波面補償が可能となるが，補償すべき波面を測定する必要がある．そこで我々は，パルス整形器を用いて焦点面におけるスペクトル位相を測定する手法を開発し，波面補償を行なった．