[18p-PA4-1~20] 3.8 光計測技術・機器

[18p-PA4-9] 磁気光学干渉素子を用いた旋光度計測手法の開発

〇山根 治起¹、高橋 慎吾¹、山川 清志¹、高橋 幸希²、世古 暢哉²、住吉 研²、重村 幸治²、三浦 聡² (1.秋田産技センター、2.Tianma Japan)

キーワード：旋光計、磁気光学、横カー効果

アミノ酸やグルコースなどの光学活性物質に直線偏光を入射すると、偏光面が回転する。この回転角度(旋光度)を測定することで、溶液の濃度などの情報が得られる。本研究では、磁性積層膜における磁気光学干渉効果を利用した新たな旋光度計測手法の開発を目的としている。光学積層膜の干渉現象が、入射光の偏光状態に敏感なことを利用することで、比較的簡単な素子構成により、旋光度を高精度に測定可能であることを報告する。