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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19a-143-1~8] 6.6 プローブ顕微鏡

2018年9月19日(水) 09:30 〜 11:45 143 (143)

阿部真之(阪大)

11:15 〜 11:30

[19a-143-7] 非接触AFMによるジュール熱散逸計測から評価したGe/Si(111)-(7×7)表面の表面抵抗

〇藏大輝¹、富取正彦²、新井豊子¹ (1.金大自然、2.北陸先端大先端)

キーワード：表面抵抗、非接触原子間力顕微鏡、エネルギー散逸