[19a-231C-1~10] 12.1 作製・構造制御

[19a-231C-6] 光変換型ペンタセン前駆体薄膜の温度による変換過程への影響

〇(M2)溜池 祐太¹、Voegeli Wolfgang¹、荒川 悦雄¹、高橋 敏男¹、白澤 徹郎²、山田 容子³、鈴木 充朗³、松下 正⁴ (1.東京学芸大、2.産総研、3.奈良先端大、4.高エ研-PF)

キーワード：X線反射率、ペンタセン、光変換

ペンタセンの薄膜作製法として前駆体法に着目し、本研究では光変換型の薄膜試料を用いる。時分割X線反射率測定により、光変換時の薄膜表面構造を測定し、同時に結晶構造の評価も行った。薄膜温度が変換時に及ぼす影響について評価を行った。