2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[19a-438-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2018年9月19日(水) 09:00 〜 12:15 438 (3Fラウンジ)

田中 洋介(農工大)、染川 智弘(レーザー総研)

11:00 〜 11:15

[19a-438-8] パルス繰り返し位相検波法を用いた光源強度ノイズキャンセルにおける
強度ノイズ由来の位相ノイズ除去

瀬戸 啓介1、小林 孝嘉1,2、徳永 英司1 (1.東理大物、2.電通大)

キーワード:ノイズキャンセル、ポンプ・プローブ法、分光

ポンプ・プローブ計測法では、プローブ光の強度雑音が信号雑音比(S/N)を劣化させる要因となる。我々は光源の強度雑音とは独立に試料計測によるプローブ光の強度変化をパルス繰り返し位相に変換し、位相検波することでS/Nを向上する方法を開発してきた。しかし、位相検波器の特性で、強度雑音が位相雑音を引き起こすことが制限要因となった。本講演では強度雑音が引き起こす位相雑音を打ち消す方法を発表する。