The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[19p-231A-1~8] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Wed. Sep 19, 2018 1:15 PM - 3:30 PM 231A (231-1)

Tamihiro Gotoh(Gunma Univ.), Norimitsu Yoshida(Gifu Univ.)

3:15 PM - 3:30 PM

[19p-231A-8] Effect of Textured Glass Substrates on the Crystallization Mechanism of Electron-Beam-Evaporated Amorphous Si Films Induced by FLA

Keisuke Kurata1, Keisuke Ohdaira1 (1.JAIST)

Keywords:Flash lamp annealing, silicon, Crystallization

テクスチャ基板上に堆積したEB蒸着a-Si膜に対しFLAを行った際の結晶化機構への影響について調査を行った。ラマンスペクトルのc-Siピークの半値幅から、平坦基板上とRIEを1時間行ったガラス基板上の試料では、過去に報告した爆発的結晶化(EC)が同様に発現していることが確認された。一方、RIEを2時間以上行ったガラス上の試料では、ラマンスペクトルの半値幅から小粒径化が示唆され、ECが発現していないと考えられる。