[19p-438-1~19] 3.8 光計測技術・機器

[19p-438-18] トモグラフィック分光計測法の周波数精度改善

〇(M2)郡司 翔平¹、塩田 達俊¹ (1.埼玉大理工)

キーワード：干渉計、分光計測、トモグラフィー

タイムドメインによる低コヒーレンス干渉計において、鏡の掃引距離を単一波長レーザーによって監視することでサンプリングを高精度に制御し、試料深さ方向に分布した分光情報を高精度に計測できるトモグラフィック分光システムの検討を行った。本稿では吸収試料に対して実験を行った結果、飛躍的な周波数精度の改善が確認できたので報告する。