2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[19p-438-1~19] 3.8 光計測技術・機器

2018年9月19日(水) 13:45 〜 19:00 438 (3Fラウンジ)

塩田 達俊(埼玉大)、安井 武史(徳島大)、田邊 健彦(産総研)

14:15 〜 14:30

[19p-438-3] In situ波面歪み測定とその補償

磯部 圭佑1、並木 香奈2、道川 貴章1,2、河野 弘幸2、宮脇 敦史1,2、緑川 克美1 (1.理研光量子、2.理研脳神経)

キーワード:波面補償、多光子顕微鏡、干渉計

生体組織の深部イメージングで問題となる波面歪みを補償するには,試料内部で生じる未知の波面歪み量を測定する必要がある.本発表では,試料内部の焦点面に発生させた干渉パターンを別のプローブ光を用いて読み出す新しい波面歪み測定法を用いれば,生体組織内で生じる波面歪みを,ガイドスターを用いることなく,どこでも測定でき,その補償が可能であることを報告する.