[19p-PA6-1~6] 1.5 計測技術・計測標準

[19p-PA6-5] クリープ変形過程の走査型電子顕微鏡その場観察技術

〇(M1)石毛 大智¹、池田 一貴¹、菅 洋志¹ (1.千葉工大)

キーワード：その場観察

本研究では，SEMを用いたクリープ変形過程のその場観察技術確立を目的に，線材試料を利用したクリープ変形試験方法，及び，試料付近に配した円筒形を二分割電極による熱電子除去フィルタの効果を検証し，クリープ変形走査型電子顕微鏡その場観察を行う