[19p-PB3-1~14] 6.6 Probe Microscopy

[19p-PB3-8] High resolution imaging of ice surfaces with atomic force microscopy

Naoya Kawakami¹, Akitoshi Shiotari¹, 〇Yoshiaki Sugimoto¹ (1.Univ. Tokyo)

Keywords:Atomic force microscopy, Ice surface

本研究では、超高真空中で145 Kに保ったPt(111)基板上にH₂Oを暴露することで作成したおよそ500 BLの結晶氷を、AFMを用いて観察した。AFM観察は85 Kで行った。