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[19p-PB6-1] 微傾斜GaAs(111)B基板上に作製したInGaAs量子細線列の光学異方性
キーワード:半導体、量子細線、光学異方性
微傾斜GaAs(111)B基板上に適切な条件でInGaAsを堆積すると、高さ約1 ~ 3 nm、周期約10 ~ 30 nmの規則的なスッテプ構造が形成される。そのようなステップ構造は、基板面内方向に周期的なポテンシャルを引き起こし、結合したInGaAs量子細線列を形成する。InGaAs量子細線列のバンド間遷移は、その形状を反映して、大きな光学異方性を示す。本研究では、実験と理論の2つの側面から、InGaAs量子細線列における光学異方性を調べ、その要因を検討した。