11:30 AM - 11:45 AM
△ [20a-133-8] Feasibility Study on Carrier Distribution Evaluation of Black Silicon by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Keywords:SNDM, Black Silicon, Carrier
ブラックシリコンのキャリア分布評価を非線形誘電率顕微鏡法(SNDM)によって行うことが可能であることを確かめた.ブラックシリコンとフラットな構造のシリコンの断面をSNDMによって計測し,比較を行った結果,ブラックシリコンの針状構造から基板にかけてドーパントが拡散している様子を観察することができた.