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△ [20a-211A-1] デュアル光渦コム分光による角度軸情報の精密干渉計測
キーワード:光コム、光渦、角度計測
我々は,光コムと光渦を組み合わせることで,精密な時空間位相制御を可能にする“光渦コム”という光源コンセプトを提案してきた.本講演では,繰り返し周波数とトポロジカルチャージの異なる2つの光渦コムを用いた新しい干渉計測法である“デュアル光渦コム分光法”を提案し,原理実証実験の結果を示す.本新手法によって,光コム計測の適用次元が拡張され,新しいタイプの角度軸計測が可能となることを示す.