[20a-224B-1~11] 2.1 放射線物理一般・検出器基礎

[20a-224B-5] FT-IRを用いたナイロン６の水素イオン照射による吸光度変化と化学的損傷パラメータ

〇(M2)酒井 盛寿¹、楠本 多聞²、小平 聡²、千葉 昌寛¹、濱野 拳¹、金崎 真聡¹、小田 啓二¹、山内 知也¹ (1.神大院海事、2.量研機構)

キーワード：固体飛跡検出器、ナイロン６

ナイロン６（ポリアミド）という高分子材料に焦点を当て赤外分光分析を用いて水素イオン照射前後の吸光度変化や化学的損傷パラメータについての考察を行った。ナイロン６は繰り返し構造内にアミド基を有している。一方、人体に多く含まれるたんぱく質にもペプチド結合と呼ばれるアミド基が存在することからアミド基の放射線感受性を調べることは重要であると言える。