[20a-235-1~8] 13.8 光物性・発光デバイス

[20a-235-3] 可変ストライプ長法による高密度InGaAs量子ドットのモード利得測定

〇大竹 章久¹、樋浦 諭志¹、鷲田 晃宏¹、高山 純一¹、村山 明宏¹ (1.北大院情報科学)

キーワード：量子ドット、モード利得、可変ストライプ長法