[20a-PA2-1~9] 12.2 評価・基礎物性

[20a-PA2-8] スチルベン単分子架橋における電流-電圧特性の経時変化

〇谷口 広樹¹、谷 洋介¹、森川 高典²、筒井 真楠²、谷口 正輝²、小川 琢治¹ (1.阪大院理、2.阪大産研)

キーワード：単分子ダイオード、機械制御ブレークジャンクション法、スチルベン

単一分子の電気特性は分子の構造や立体配座に繊細に応答する。分子の立体配座の変化が電気伝導度に影響を与えることがすでに報告されているが、I-V特性に与える影響についてはほとんど研究されていない。そこで、MCBJ法を用いてスチルベンのI-V特性を測定したところ、同一の単分子架橋中で整流比が変化する様子が見られた。発表では対照分子の合成およびI-V測定を含め、この変化の起源について議論する。