[20p-225B-1~5] クライオ電子顕微鏡最前線

[20p-225B-5] クライオSTEMトモグラフィーによる細胞レベルの３D構造解析

〇青山 一弘^1,2 (1.サーモフィッシャー、2.阪大超高圧)

キーワード：クライオ電子顕微鏡法、STEM トモグラフィ

透過型電子顕微鏡のトモグラフィを行うとき、STEMを用いれば通常のTEMと比較して数々の利点がある。特に解析可能な試料の厚さが3倍程度まで可能となるので、細胞レベルの構造解析を行うのにとても都合がよい。また、クライオ試料においても十分なコントラストが得られることも明らかになっており、これからの応用が期待される。この手法についての詳しく紹介する。