[20p-231A-1~10] 1.4 エネルギー変換・貯蔵・資源・環境

[20p-231A-5] X線小角散乱によるナノポーラスカーボンの吸着構造解析

〇工藤 悠人¹、小松 啓志¹、津田 欣範^1,2、Siriwat Soontaranon³、齋藤 秀俊¹ (1.長岡技科大、2.ヒューズ・テクノネット、3.タイ国立放射光研究所)

キーワード：X線小角散乱、Porod解析、ナノポーラスカーボン

様々な分子を吸着させたNPCを準備し、X線小角散乱を測定した。細孔の形状、気孔率などの細孔に関する情報が得られるPorod解析を行うことで、吸着前後のX線小角散乱測定結果を比較し、吸着前後の細孔構造の変化を調査した。