2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[21a-222-1~11] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2018年9月21日(金) 09:00 〜 12:00 222 (222)

奥村 英之(京大)、坂間 弘(上智大)

11:15 〜 11:30

[21a-222-9] 立方晶ペロブスカイト酸化物群から見いだした特異なナローバンドギャップ(~4 eV)を有するシリケート: BaSiO3

平松 秀典1,2、遊佐 斉3、五十嵐 涼1、大石 泰生4、神谷 利夫1,2、細野 秀雄1,2 (1.東工大フロンティア研、2.東工大元素戦略研、3.物材機構、4.高輝度光科学研究センター)

キーワード:酸化物半導体、混成汎関数、シリコン基酸化物

仮想化合物を含む35種類の立方晶ペロブスカイト型酸化物の電子構造を第一原理計算によって網羅的に計算し、BaSiO3がシリケートとしては非常に小さいバンドギャップ(約4 eV)を有し、電子の有効質量も0.3meと小さいことを見いだした。さらに、これまで未報告だったBaSiO3の立方晶相が実在することを、高圧下in-situ XRD測定により実験的に実証した。