[21a-CE-1~10] 13.5 デバイス／集積化技術

△ [21a-CE-9] アンドープ型シリコン量子ドットにおける高周波反射測定

〇小林 瑞基¹、Tylaite Egle¹、山岡 裕¹、小寺 哲夫¹ (1.東工大)

キーワード：シリコン、量子コンピュータ

シリコン量子ドットを用いたスピン量子ビットは、長いコヒーレンス時間を持ち、従来の半導体デバイス製造技術との整合性が高いため、期待を集めている。特にアンドープ型の量子ドットは、ドープ型に比べてドープ層におけるゆらぎに起因した電荷ノイズが少ないため、電荷状態が安定しているという利点がある。本研究では、アンドープ型シリコン量子ドットにおいて高周波反射測定を行い、スピン状態の読み出しを試みた。